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兩類(lèi)方法適用于不同類(lèi)型的風(fēng)口，測(cè)量方法選擇不當(dāng)是造成結(jié)果差異大的可能原因。直接法測(cè)量，顧名思義，即通過(guò)風(fēng)量罩直接測(cè)得風(fēng)量值。適用性較廣，尤其是出風(fēng)口氣流分布不均勻（散流、旋流等）的場(chǎng)合。但須注意風(fēng)量罩對(duì)適合測(cè)量的風(fēng)口有尺寸限制（風(fēng)口尺寸較風(fēng)量罩尺寸不可過(guò)大或過(guò)小）。間接法測(cè)量，通過(guò)風(fēng)速儀測(cè)得風(fēng)速值，再通過(guò)計(jì)算得出風(fēng)量值。間接法測(cè)量對(duì)出風(fēng)口氣流分布要求較嚴(yán)格（即氣流分布盡量均勻）。在風(fēng)口氣流分布較均勻的場(chǎng)合，直接法與間接法測(cè)量結(jié)果大致接近。兩個(gè)常見(jiàn)的傳統(tǒng)方法為1.與色散光的物理掃面組合在一起的單個(gè)元件（或單點(diǎn)）探測(cè)器，以及2.將色散光成像于一個(gè)探測(cè)器陣列上。在種方法中，來(lái)自光柵的色散光被聚焦在單個(gè)探測(cè)器上。為了分析多個(gè)波長(zhǎng)上的功率，光柵（通常情況下如此）或者聚焦元件必須適當(dāng)?shù)匦D(zhuǎn)，以便將來(lái)自每個(gè)波長(zhǎng)的光調(diào)節(jié)到探測(cè)器上。要執(zhí)行掃描，與探測(cè)器相關(guān)的電子元器件必須與光柵的運(yùn)動(dòng)同步，這樣的話，測(cè)得的功率就與正確的波長(zhǎng)相一致。這就要求機(jī)械旋轉(zhuǎn)系統(tǒng)非常，并因此在體積方面變得十分龐大，而這也限制了這個(gè)方法在實(shí)驗(yàn)室之外的實(shí)用性。
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