我公司業(yè)生產(chǎn)銷售各種計(jì)量校準(zhǔn)設(shè)備，詳細(xì)資料請(qǐng)聯(lián)系青島華能遠(yuǎn)見(jiàn)電氣有限公司業(yè)務(wù)人員。
就以上的難點(diǎn)，ITECH依托于強(qiáng)大的硬件韌體功能，均已一一突破，并為內(nèi)知名熔斷器制造商實(shí)驗(yàn)室完成了3A熔斷時(shí)間的系統(tǒng)方案。熔斷時(shí)間方案優(yōu)勢(shì)使用IT89A/E系列負(fù)載自帶Measure功能量測(cè)熔斷時(shí)間在熔斷器熔斷時(shí)間測(cè)試應(yīng)用中，熔斷時(shí)間對(duì)應(yīng)下圖中從C點(diǎn)下降到E點(diǎn)的時(shí)間（正脈寬時(shí)間），且時(shí)間量測(cè)精度可媲美示波器.量測(cè)時(shí)間的測(cè)定通過(guò)上位機(jī)軟件發(fā)送指令，，測(cè)試電源電壓從1V到8V，電流從1A到5A的上升和下降時(shí)間，可以發(fā)送如下指令：在熔斷器測(cè)試方案中，主要應(yīng)用到IT89A/E系列大功率負(fù)載和IT6系列大功率電源。此類紅外熱像儀不需要制冷，且成本比量子探測(cè)器紅外熱像儀低。制冷型量子探測(cè)器采用銻華銦（InS、銦鎵砷（InGaAs）或應(yīng)變超晶格制成。這類探測(cè)器為光電探測(cè)器，即光子撞擊像素點(diǎn)，轉(zhuǎn)化為可存儲(chǔ)于積分電容器的電子。像素采用的電子快門，通過(guò)斷開或短路積分電容器來(lái)控制快門。銻化銦(InSb)探測(cè)器熱像儀，比如FLIRX69sc，在測(cè)量-2?C至35?C之間的物體溫度時(shí)，其典型的積分時(shí)間可能低至.48μs。
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